LS 13 320 XR 粒度分析儀采用的 PIDS 技術,為您提供準確的粒度分布數(shù)據(jù),讓您能夠進行高分辨率的測量并擴展動態(tài)范圍。如同 LS 13 320,XR 分析儀提供快速、準確的結果,并幫助您簡化工作流程從而達到理想效率。一些重大改進可讓您更容易察覺到細微差異,而正是這些細微的差異才會對您的粒度分析數(shù)據(jù)產生重大影響。
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2026-04-22
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