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LS 13 320 XR 粒度分析儀采用的 PIDS 技術(shù)，為您提供準(zhǔn)確的粒度分布數(shù)據(jù)，讓您能夠進(jìn)行高分辨率的測(cè)量并擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、準(zhǔn)確的結(jié)果，并幫助您簡(jiǎn)化工作流程從而達(dá)到理想效率。一些重大改進(jìn)可讓您更容易察覺(jué)到細(xì)微差異，而正是這些細(xì)微的差異才會(huì)對(duì)您的粒度分析數(shù)據(jù)產(chǎn)生重大影響。
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2026-04-22
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